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  • 日本大冢顯微分光膜厚儀OPTM SERIESOPTM-A2 日本大冢顯微分光膜厚儀OPTM SERIESOPTM-A2 日本大冢顯微分光膜厚儀OPTM SERIESOPTM-A2
  • 日本大冢OPTM SERIES顯微分光膜厚儀OPTM-A1 日本大冢OPTM SERIES顯微分光膜厚儀OPTM-A1 日本大冢OPTM SERIES顯微分光膜厚儀OPTM-A1
  • 多通道光譜儀MCPD系列膜厚測量MCPD-7700 多通道光譜儀MCPD系列膜厚測量MCPD-7700 多通道光譜儀MCPD系列膜厚測量MCPD-7700
  • 膜厚測量MCPD系列多通道光譜儀MCPD-3700 膜厚測量MCPD系列多通道光譜儀MCPD-3700 膜厚測量MCPD系列多通道光譜儀MCPD-3700
  • MCPD系列膜厚測量多通道光譜儀MCPD-9800 MCPD系列膜厚測量多通道光譜儀MCPD-9800 MCPD系列膜厚測量多通道光譜儀MCPD-9800
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  • 非接觸式光學膜厚儀AT-1500 非接觸式光學膜厚儀AT-1500 非接觸式光學膜厚儀AT-1500
  • FE-5700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-5700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-5700
  • FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700
  • RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 對應(yīng)微LED等微小樣品的配光測定系統(tǒng)RH50.。 與光學模擬軟件的聯(lián)合是可能的，可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50
  • SF-3Rθ OTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統(tǒng) *多可以快速映射12inch晶片OTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圓厚度映射系統(tǒng)SF-3Rθ
  • SF-3Rθ OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3Rθ
  • SF-3AAF OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAF
  • SF-3AA OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AA
  • GS-300 OTSUKA大冢-負載端口對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，X-Y定位精度在2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-負載端口對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng)GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng)GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng)GS-300
  • 　SF-3/200 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200
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