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UV曝光裝置
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uv固化裝置
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紫外可見光光度計
膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)
提供豐富選配套件以及客制化光纖,
可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計,是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的即時測量系統(tǒng)
分光光譜儀種類
-
MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
-
MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
-
MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點膜厚測量
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半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
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光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
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塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
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樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)
提供豐富選配套件以及客制化光纖,
可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計,是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的即時測量系統(tǒng)
分光光譜儀種類
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MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
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MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
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MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜
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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
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LB膜測量
蒸餾膜測量
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多點膜厚測量
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半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
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光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
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塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
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樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
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