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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700

  • 產(chǎn)品型號：FE-3700
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700
詳情介紹：
FE-3700
     OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)

特　長：

可以快速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數(shù).。為大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有機EL提供支持。

OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統(tǒng)FE-3700


用　途
  • LCD
    ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
  • TFT
    SiN/a-Si/Glass
  • 有機EL
    有機EL/ITO/Glass
  • PDP
    誘電體層/Glass


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