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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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一種測量照明設(shè)備的配光特性的設(shè)備。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡可以實(shí)現(xiàn)高精度的測量！ -可以與配光數(shù)據(jù)一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實(shí)現(xiàn)相當(dāng)于照度計(jì)的高速測量！ ?根據(jù)配光測量結(jié)果可以進(jìn)行照明率分析！!! -符合標(biāo)準(zhǔn)的測量系統(tǒng)！ ?也可以由測量基準(zhǔn)部門提供技術(shù)支持！ 該設(shè)備可處理從室內(nèi)照明到泛光燈的各種照明設(shè)備，并滿足多種用途的需求。
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除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可變測量機(jī)制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動(dòng)連接/分離機(jī)制，還提高了測量精度。
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它是一種緊湊且價(jià)格低廉的膜厚計(jì)，可通過高精度光學(xué)干涉儀以簡單的操作實(shí)現(xiàn)膜厚測量。 我們采用了一體式的機(jī)殼，在主機(jī)中容納了必要的設(shè)備，從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低價(jià)獲得優(yōu)良反射率可以分析光學(xué)常數(shù)。
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多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區(qū)域。光譜光譜至少可以在5毫秒內(nèi)測量。標(biāo)準(zhǔn)光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜，光源發(fā)射，透射/反射測量之外，還可以通過與軟件結(jié)合來支持對象顏色評估，膜厚測量等。
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Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
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晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚
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Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀
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Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類型
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Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300標(biāo)準(zhǔn)型
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機(jī)制 易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
