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  • 一種測量照明設(shè)備的配光特性的設(shè)備。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡可以實現(xiàn)高精度的測量！ -可以與配光數(shù)據(jù)一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實現(xiàn)相當于照度計的高速測量！ ?根據(jù)配光測量結(jié)果可以進行照明率分析！!! -符合標準的測量系統(tǒng)！ ?也可以由測量基準部門提供技術(shù)支持！ 該設(shè)備可處理從室內(nèi)照明到泛光燈的各種照明設(shè)備，并滿足多種用途的需求。
  • 它以超高速，實時，高精度的晶片和樹脂非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程。
  • 除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實現(xiàn)自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動連接/分離機制，還提高了測量精度。 　
  • 它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現(xiàn)膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設(shè)備，從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低價獲得優(yōu)良反射率可以分析光學常數(shù)。 　
  • 多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區(qū)域。光譜光譜至少可以在5毫秒內(nèi)測量。標準光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜，光源發(fā)射，透射/反射測量之外，還可以通過與軟件結(jié)合來支持對象顏色評估，膜厚測量等。
  • OTSUKA大冢高靈敏度光譜輻射儀HS-1000
  • 多通道光譜儀MCPD系列，用于膜厚測量
  • Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
  • 線掃描膜厚儀Otsuka大塚線掃描膜厚儀Otsuka大塚線掃描膜厚儀Otsuka大塚
  • SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚
  • 晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚
  • Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
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