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產品詳情
  • 產品名稱:膜厚計FE-300

  • 產品型號: FE-300
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產品價格:0
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簡單介紹:
它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計,可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現(xiàn)膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼,在主機中容納了必要的設備,從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低價獲得優(yōu)良反射率可以分析光學常數(shù)。  
詳情介紹:
特殊長度
  • 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
  • 使用反射光譜進行膜厚分析
  • 緊湊且價格低廉,實現(xiàn)了非接觸,無破壞的高精度測量
  • 簡便的條件設置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 通過峰谷法,頻率分析法,非線性*小二乘法,優(yōu)化方法等,可以進行各種各樣的膜厚測量。
  • 通過非線性*小二乘薄膜厚度分析算法可以進行光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))。

 

測量項目
  • 優(yōu)良反射率測量
  • 膜厚分析(10層)
  • 光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))

 

測量目標
  • 功能膜,塑料
    透明導電膜(ITO,銀納米線),相位差膜,偏光膜,AR膜,PET,PEN,TAC,PP,PC,PE,PVA,膠粘劑,膠粘劑,保護膜,硬涂層,抗指紋, 等等。
  • 半導體
    化合物半導體,硅,氧化膜,氮化膜,抗蝕劑,SiC,GaAs,GaN,InP,InGaAs,SOI,藍寶石等。
  • 表面處理
    DLC涂層,防銹劑,防霧劑等
  • 光學材料
    濾鏡,增透膜等
  • FPD
    LCD(CF,ITO,LC,PI),OLED(有機膜,密封劑)等
  • 其他
    硬盤,磁帶,建筑材料等

 

  • 產品信息
  •  
  • 原則
  •  
  • 規(guī)格
  •  
  • 設備配置

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