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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱(chēng)：Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類(lèi)型

    • 產(chǎn)品型號(hào)： FE-300薄膜類(lèi)型
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價(jià)格：0
    • 折扣價(jià)格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡(jiǎn)單介紹：
    Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類(lèi)型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類(lèi)型Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300薄膜類(lèi)型
    詳情介紹：

    膜厚計(jì)FE-300

    它是一種緊湊且低成本的膜厚計(jì)，可以通過(guò)高精度光學(xué)干涉法輕松測(cè)量膜厚。
    我們采用了一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
    通過(guò)以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。





    • 產(chǎn)品資訊
    • 原理
    • 規(guī)范
    • 設(shè)備配置

    產(chǎn)品資訊

    特殊長(zhǎng)度
    • 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
    • 使用反射光譜進(jìn)行膜厚分析
    • 緊湊且價(jià)格低廉，實(shí)現(xiàn)了非接觸，無(wú)破壞的高精度測(cè)量
    • 簡(jiǎn)單的條件設(shè)置和測(cè)量操作！任何人都可以輕松測(cè)量薄膜厚度
    • 使用峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優(yōu)化法等，可以進(jìn)行多種膜厚測(cè)量。
    • 通過(guò)非線性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）。

     

    測(cè)量項(xiàng)目
    • **反射率測(cè)量
    • 膜厚分析（10層）
    • 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）

     

    測(cè)量目標(biāo)
    • 功能膜，塑料
      透明導(dǎo)電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護(hù)膜，硬質(zhì)大衣，防指紋等
    • 半導(dǎo)體
      化合物半導(dǎo)體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍(lán)寶石等。
    • 表面處理
      DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
    • 光學(xué)材料
      濾鏡，增透膜等
    • FPD
      LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)膜，密封劑）等
    • 其他
      硬盤(pán)，磁帶，建筑材料等
    產(chǎn)品留言
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