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  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚
  • ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell。 另，在0～90℃的大的溫度范圍內，測量自動溫度的梯度空間，分析変性?相轉移溫度
  • ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng) 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
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  • Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
  • Otsuka大塚內置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內置膜厚監(jiān)測儀
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