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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱(chēng)：安徽微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)KOSAKA小坂臺(tái)階儀ET4000M

    • 產(chǎn)品型號(hào)： ET4000M
    • 產(chǎn)品廠商：KOSAKA小坂臺(tái)階儀
    • 產(chǎn)品價(jià)格：0
    • 折扣價(jià)格：0
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    簡(jiǎn)單介紹：
    安徽微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)KOSAKA小坂臺(tái)階儀ET4000M臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽(yáng)能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面
    詳情介紹：

    安徽微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)KOSAKA小坂臺(tái)階儀ET4000M


    臺(tái)階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)

     

    *大試片尺寸 210×210mm~300×400mm
    重現(xiàn)性 1σ 0.5nm以?xún)?nèi)
    測(cè)定范圍 Z:100um X:100～305mm (Y移動(dòng)量:150~400mm)
    分解能 Z:0.1nm X:0.1um
    測(cè)定力

    0.5UN~500UN (0.05mg-50mg)

     

    臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽(yáng)能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面

    安徽微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)KOSAKA小坂臺(tái)階儀ET4000M

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