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紫外可見(jiàn)光光度計(jì)
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國(guó)代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀,適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測(cè)量外,它還可以與軟件結(jié)合使用,以評(píng)估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800擁有3個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的12種探測(cè)器陣容,并提出*合適的探測(cè)器,以滿(mǎn)足客戶(hù)需求和測(cè)量應(yīng)用。
MCPD-9800它配備了通用USB端口和LAN通信,可以支持從遠(yuǎn)程位置進(jìn)行遠(yuǎn)程測(cè)量,從而擴(kuò)展了便利性和廣泛的測(cè)量應(yīng)用。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800使用512通道或1024ch檢測(cè)元件和探測(cè)器主體的內(nèi)部存儲(chǔ)器,可以每5毫秒(MCPD-9800)以高靈敏度和精度測(cè)量不斷變化的紫外,可見(jiàn)光和近紅外發(fā)射光譜。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)用途 ◎薄膜、涂膜、保護(hù)膜的膜厚 ◎晶圓、玻璃基板、鋁基板上的膜厚
OTSUKA大塚電子MCPD-9800顯微光譜系統(tǒng)應(yīng)用 ◎ 顯微鏡下微小斑點(diǎn)的測(cè)量(反射、透射、吸收) ◎ 薄膜厚度測(cè)量
(薄膜、各種基材上的薄膜、保護(hù)膜)
多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)
應(yīng)用 ◎ 減反射膜的反射率測(cè)量 ◎ 涂膜的膜厚測(cè)量 ◎ 各種基材上的膜
厚測(cè)量
橫移機(jī)兼容系統(tǒng) | |
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應(yīng)用 ◎ 減反射膜的膜厚和反射率測(cè)量 ◎ 功能性膜 的質(zhì)量控制 |
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!