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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚 膜厚監(jiān)測儀FE-300

    • 產(chǎn)品型號(hào)：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價(jià)格：0
    • 折扣價(jià)格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo OTSUKA大塚 膜厚監(jiān)測儀FE-300
    詳情介紹：


    產(chǎn)品信息

    特征
    • 兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
    • 使用反射光譜分析薄膜厚度
    • 緊湊、低成本、非接觸式、無損和高精度測量
    • 易于設(shè)置條件和測量操作！ 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
    • 峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等可實(shí)現(xiàn)多種薄膜厚度測量
    • 非線性*小二乘膜厚分析算法可實(shí)現(xiàn)光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：衰減計(jì)數(shù)）

     

    測量項(xiàng)目
    • **反射率測量
    • 薄膜厚度分析（10層）
    • 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：衰減計(jì)數(shù)）

     

    測量對(duì)象
    • 功能膜、塑料：
      透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋劑等。
    • 半導(dǎo)體 化合物半導(dǎo)體
      、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍(lán)寶石等
    • 表面處理
      DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
    • 光學(xué)材料
      濾光片、增透膜等
    • FPD
      液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)膜，密封膠）等。
    • 其他
      硬盤、磁帶、建筑材料等




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