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紫外可見(jiàn)光光度計(jì)
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀 橢圓偏振光測(cè)量?jī)x 多功能橢偏儀 橢偏儀系統(tǒng)
詳情介紹:
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理、直營(yíng)各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品,聯(lián)系人:張小姐
聯(lián)系電話:15902189399
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
- 可在紫外可見(jiàn)(300~800nm)波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)量橢圓參數(shù)
- 納米級(jí)多層薄膜的厚度分析
- 使用 400ch 或更多多通道光譜快速測(cè)量橢圓光譜
- 通過(guò)可變反射角度測(cè)量支持薄膜的詳細(xì)分析
- 通過(guò)數(shù)據(jù)庫(kù)化光學(xué)常數(shù)和添加配方注冊(cè)功能,提高可操作性
測(cè)量項(xiàng)目
- 橢圓參數(shù)(tan= 、cosΔ)測(cè)量
- 光學(xué)常數(shù) ( n : 折射率 , k : 消光系數(shù) ) 分析
- 厚度分析
測(cè)量對(duì)象
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半導(dǎo)體晶圓
柵極氧化薄膜、氮化膜
SiO2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN
電阻的光學(xué)常數(shù)(波長(zhǎng)色散) -
化合物半導(dǎo)體
鋁xGa(1-x)As 多層膜,非晶硅 -
FPD
對(duì)準(zhǔn)膜 -
各種新材料
DLC(Diamond Like Carbon)、超導(dǎo)薄膜、磁頭薄膜 -
光學(xué)薄膜
TiO2,SiO2,防反射膜 -
光刻領(lǐng)域
g 線 (436nm)、h 線 (405nm) 、i 線 (365nm) 等各波長(zhǎng)的 n,k 評(píng)價(jià)
里·哈拉
將包含 s 波和 p 波的線性偏振光入射到樣品中,以測(cè)量反射光的橢圓偏振光。 s 波和 p 波的相位和振幅獨(dú)立變化,以獲得 p 波和 s 波反射率的比值和相位差 Δ,這是兩種偏振光的轉(zhuǎn)換參數(shù),具體取決于樣品。
tan_ 和 cons_稱為橢圓參數(shù),光譜橢圓測(cè)量測(cè)量這兩個(gè)參數(shù)的波長(zhǎng)相關(guān)光譜。
手勢(shì)
類型表達(dá)式 | FE-5000S | FE-5000 |
樣本大小 | 高達(dá) 100x100mm | *大 200x200mm |
測(cè)量方法 | 旋轉(zhuǎn)分析儀*1 | |
測(cè)量膜厚范圍(nd) | 0.1nm~1μm | |
入射(反射)角度范圍 | 45~90° | 45~90° |
入射(反射)角度驅(qū)動(dòng)方式 | 自動(dòng)正弦桿驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) | |
入射點(diǎn)直徑*2 | φ2.0 | φ1.2sup*3 |
tanψ測(cè)量精度 | ±0.01 或更少 | |
cosΔ 測(cè)量精度 | ±0.01 或更少 | |
薄膜厚度的重復(fù)再現(xiàn)性 | 0.01% 或更少*4 | |
波長(zhǎng)范圍*5 | 300~800nm | 300~800nm |
測(cè)量光源 | 高穩(wěn)定性 Xenon 燈*6 | |
舞臺(tái)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) | 手動(dòng) | 手動(dòng)/自動(dòng) |
加載器支持 | 不可以 | 是 |
尺寸、重量 |
650(W)×400(D)×593(H)mm 50kg |
1300(W)×890(D)×1750(H)mm 350kg*7 |
*1 偏振器可驅(qū)動(dòng),緩速板可拆卸,對(duì)不敏感帶有效。
*2 因短軸和角度而異。
*3 微點(diǎn)對(duì)應(yīng)(可選)
*4 使用 VLSI 標(biāo)準(zhǔn) SiO2 膜 (100nm) 時(shí)的值。
*5 選擇自動(dòng)階段時(shí)的值。
上海地區(qū)代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀
浙江地區(qū)代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀
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