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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx

    • 產(chǎn)品型號：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx VR測試儀 Re測試 相位延遲測試儀 大塚電子RETS
    詳情介紹：

    塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐

    聯(lián)系電話：15902189399  

    延遲測量設(shè)備 RETS-100nx 新

    它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。
    實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。
    薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。
    此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。

    產(chǎn)品信息

    特點(diǎn)
    高精度測量，因?yàn)樗菍Ｓ械墓庾V儀

    ■ 高精度


    通過多波長測量實(shí)現(xiàn)

    在短波長下，可以確定近似值的結(jié)果，如難以測量的 lamb標(biāo)準(zhǔn) / 4，lamb標(biāo)準(zhǔn) / 2。 結(jié)果不受薄膜厚度干擾波形的影響。
    高精度 <高精度原因>
    使用獨(dú)特的高性能多通道光譜儀
    ， 獲得大量的透射率信息 ， 可實(shí)現(xiàn)
    高精度測量 （ 獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產(chǎn)品的 50 倍）

     

    ■ 范圍廣（延遲范圍：0~60000nm）

    ■ 范圍廣的測量范圍 同強(qiáng)度也能根據(jù)其他波長數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算

     

    ■ 可知延遲波長色散形狀

    ■ 可測量可知延遲波長色散形狀的逆色散樣品

    超高延遲測量 - 超雙折射薄膜可高速、高精度地測量 -

    ■ 高延遲
    ■ 高延遲測量 即使這么高的延遲，也可以用自己的算法進(jìn)行無參數(shù)分析。
    支持超高 Re.60000nm

     

    多層測量 - 無需剝離即可測量各種薄膜的層壓狀態(tài)，

    多層測量 不需要剝離，可以直接測量

     

    軸角度校正功能 - 即使樣品安裝偏移，也能輕松測量可重復(fù)性 -

    ■ 將樣品重新放置10次，比較結(jié)果無角度校正
    [ 樣品： 相位差膜R85 ]

    將樣本重新放置 10 次，結(jié)果無角度校正，無比較，無校正：重新放置偏差：0.13，校正：重新校正變化：0.013 或更少

     

    簡單軟件 - 顯著縮短測量和處理時間。 可操作性大幅UP-

    簡單的軟件，你可以完成所有操作在一個屏幕上！

    規(guī)格

    手勢
    類型表達(dá)式 延遲測量設(shè)備 RETS-100nx
    測量項(xiàng)目（薄膜、光學(xué)材料） 延遲（波長色散）、慢軸、Rth*1，三維折射率*1等
    測量項(xiàng)目（偏振板） 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等
    測量項(xiàng)目（液晶電池） 細(xì)胞間隙，預(yù)傾角*1、扭曲角、取向角等
    延遲測量范圍  0 ～ 60,000nm
    延遲可重復(fù)性 3 μ≦0.08nm（晶體波長板約 600nm）
    細(xì)胞間隙測量范圍 0 到 600μm（μn = 0.1）
    細(xì)胞間隙可重復(fù)性 3π≦0.005μm（單元間隙約3μm、Δn=0.1時）
    軸檢測可重復(fù)性 3° ≦0.08° （晶體波長板約 600nm）
    測量波長范圍 400 至 800nm（可選）
    探測器 多通道光譜儀
    測量直徑 φ2mm （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）
     光源 100W 鹵素?zé)?
    數(shù)據(jù)處理部 個人計算機(jī)、顯示器
    舞臺尺寸：標(biāo)準(zhǔn) 100mm × 100mm（固定級）
    選項(xiàng) 超高延遲測量
    、多層測量
    、軸角度校正功能
    、自動 XY 級
    、自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段

    *1 需要自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段（可選）

    光學(xué)

    特點(diǎn)
    固定級 [ 選項(xiàng) ： 軸角度校正功能 ]

    固定階段

     

    自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段 [ 選項(xiàng) ]

    自動傾斜旋轉(zhuǎn)臺

     

    自動 XY 舞臺 [ 選項(xiàng) ]

    自動 XY 級

    代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx

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