線掃描膜厚儀[離線型]|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品名稱：線掃描膜厚儀[離線型]
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

該設(shè)備可以輕松地離線檢查面內(nèi)膜厚不均，以進行膜的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽樣檢查。可以高速且高精度地測量整個表面。

詳情介紹：

特殊長度

可以檢查薄膜的面內(nèi)薄膜厚度不均等
可以高速，高精度地測量整個表面
只能由專門從事膜厚測量的制造商提供的**支持
通過分光光度法進行高精度的膜厚測定
硬件和軟件的原始設(shè)計

線掃描圖像
即時分析300毫米見方的光譜數(shù)據(jù)，以進行**的不均勻檢查和膜厚測量

電影

產(chǎn)品信息
規(guī)格
測量例

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