OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計AT-5000|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計AT-5000
產(chǎn)品型號：AT-5000
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

　AT-5000 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計AT-5000

詳情介紹：

AT-5000

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特長

用非接觸測量不透明、粗糙面、容易變形的樣品

高的重復(fù)性·再現(xiàn)性

沒有檢量，一定能明白厚度

測量直徑很微小，不受穆拉的影響

不能調(diào)整樣本的位置，用“只放”來測量

因為穩(wěn)定性很高，不會發(fā)生誤差，所以誰都可以操作。

以光學(xué)方式**

仕様

非接觸光學(xué)厚み計の仕様

構(gòu)成図

誰でも1ステップで簡単測定

原理

サンプルに対して上下から光を照射し、
基準(zhǔn)面からの距離を測定します。
d=dall-(d1+d2)

サンプルに対して上下から光を照射し、基準(zhǔn)面からの距離を測定します。 d=dall-(d1+d2)

測定方法比較

サンプル例と測定方法の比較

		非接觸光學(xué)厚み計	接觸式厚み計	X線式厚み計	変位計
サンプル	ゲルシート	○	×	○	○
	不織布	○	×	○	×
	金屬板	○	○	○	○
	樹脂	○	○	○	○
	多孔質(zhì)	○	△	○	×
	セラミック	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
測定條件	測定時間	○ 高速	○	○	○
	非接觸測定	○ 非接觸	×	○	○
	前処理	○ 不要	○	×	○
	検量線	○ 不要	○	×	○
	高さ合わせ	○ 不要	○	○	×