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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)

    • 產(chǎn)品型號(hào)：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價(jià)格：0
    • 折扣價(jià)格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡(jiǎn)單介紹：
    OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì) 在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M(jìn)行全幅、全長(zhǎng)測(cè)量的裝置。 通過在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01秒的測(cè)定間隔，可以進(jìn)行500mm寬(1臺(tái)使用時(shí))的薄膜的膜厚測(cè)定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
    詳情介紹：

       OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)

    在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M(jìn)行全幅、全長(zhǎng)測(cè)量的裝置。
                                                   通過在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01                                                   秒的測(cè)定間隔，可以進(jìn)行500mm寬(1臺(tái)使用時(shí))的薄膜的膜厚測(cè)定。



    特長(zhǎng)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)

    通過采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)沒有“脫落”的全長(zhǎng)和全長(zhǎng)膠卷檢查

    硬軟件一起設(shè)計(jì)原創(chuàng)設(shè)計(jì)

    因?yàn)槭悄ず駵y(cè)定的專門制造廠，所以能夠充實(shí)的支持

    高精度測(cè)量（取得磚利）

    高速可以測(cè)量

    強(qiáng)制性強(qiáng)

    寬的樣本（可以在TD方向*大10m測(cè)量）


    フィルムの幅に合わせて検出器を増?jiān)O(shè)可能（MAX10m）


    仕様

    測(cè)定項(xiàng)目 膜厚（FFT）
    位置分解能 1mm
    測(cè)定幅 500mm
    波長(zhǎng)範(fàn)囲 400 ～ 920nm
    1素子當(dāng)たりの波長(zhǎng)幅 約 0.6nm
    膜厚測(cè)定範(fàn)囲 2 ～ 250μm
    測(cè)定間隔 10msec ～

    測(cè)定例

    500mm幅の包裝用フィルムの場(chǎng)合

    1ライン分の測(cè)定畫像から1ポイントの分光スペクトルを取り出し、分光スペクトルをFFT解析

     

    解析結(jié)果例：ソフト畫面
     


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