OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)：OPTM series
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
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OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series

詳情介紹：

OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)

利用顯微分光的微小領(lǐng)域的**反射率測(cè)量，高精度的膜厚·光學(xué)常數(shù)解析可能的裝置。
各種薄膜、晶片、光學(xué)材料等涂層膜的厚度和多層膜可以非破壞、非接觸測(cè)量.。測(cè)定時(shí)間是能夠進(jìn)行1秒/point的高速測(cè)定的，即使是初次測(cè)定的，也搭載了能夠簡(jiǎn)單解析光學(xué)常數(shù)的軟件。

特長(zhǎng)：
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series
將膜厚測(cè)量所需的功能集中在頭部！

高精度的**反射率測(cè)量（多層膜厚，光學(xué)定數(shù)）

1點(diǎn)1秒以內(nèi)的高速測(cè)量

在顯微鏡下實(shí)現(xiàn)廣闊的測(cè)量波長(zhǎng)范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外線-近紅外線）

區(qū)域傳感器的**機(jī)構(gòu)

即使是**次進(jìn)行光學(xué)定數(shù)解析的輕松解析危機(jī)

可定制測(cè)量序列的宏功能

對(duì)應(yīng)各種定制