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  • “光譜輻照度測量系統(tǒng) IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
  • 評估光源在紫外線區(qū)域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
  • “紫外分光輻照度測量系統(tǒng)IL100”評估光源在紫外區(qū)的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統(tǒng)評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也能實現(xiàn)高精度測量的設備。 產品咨詢
  • 評估 UV LED 的光分布特性。 ?基于輻射強度/輻照度的光分布評估 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度 可視化用于**和樹脂固化的光源的不均勻照射。
  • 評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
  • 它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球，樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統(tǒng)對應任何場景總光通量測量多年經(jīng)驗，滿足需求支持。
  • 一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發(fā)的分光鏡實現(xiàn)高精度測量！ -顏色可以與光分布數(shù)據(jù)一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現(xiàn)相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據(jù)配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統(tǒng)！
  • 它是一個具有模式匹配功能和 2um 或更小的 XY 定位精度的系統(tǒng)。
  • 在晶圓等的研磨研磨工序中，以超高速、高精度無接觸地測量晶圓和樹脂的厚度。
  • 是一種可以方便地離線檢測面內膜厚不均勻性的設備，用于膜的研發(fā)和質量控制的抽檢。 可以高速且高精度地測量整個表面。
  • 它是一種可以在薄膜生產現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的設備。 通過將開創(chuàng)的光譜干涉技術與新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
  • “一步操作”是一種追求用戶友好性的設備，無需任何繁重的工作，設置樣品即可立即看到結果。 該設備旨在縮短檢測過程，無需校準曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優(yōu)良厚度。 由于使用了大冢電子開創(chuàng)的光學方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時節(jié)省空間。
  • 它以非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程，具有超高速、實時和高精度的晶片和樹脂。
  • 除了可實現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實施自動可變測量機制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機制來提高測量精度。
  • 實現(xiàn)具有波長依賴性的高精度多層膜測量
  • 它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過簡單的操作實現(xiàn)了高精度光學干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設備安裝在主體中，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數(shù)。
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