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    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

    日期：2025-04-04 17:52
    瀏覽次數(shù)：172
    摘要：HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2
    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

    nanoPartica SZ-100V2
    納米粒度及Zeta電位分析儀
    先進(jìn)的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
    納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
    簡單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！
    一臺設(shè)備、三種功能，可對每個(gè)測量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。


    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2


    粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

    SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準(zhǔn)確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實(shí)現(xiàn)對小體積樣品的測量。

    Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

    使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

    分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

    通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

    SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

    • SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

    • 使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

    • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

    • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。


    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測量規(guī)格

    型號 SZ-100-S2（**粒徑和分子量測量）
    測量原理 粒度測量：動態(tài)光散射
    分子量測量：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)散射光強(qiáng)度）
    測量范圍 粒徑：0.3 nm 至 10 μm
    分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點(diǎn)）
                                 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
    *大樣品濃度

    40%*2

    粒度測量精度

    以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化）

    測量角度

    90°和173°（自動或手動選擇）

    樣品池 比色皿
    測量時(shí)間 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結(jié)果）
    所需樣品量 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異）
    分散劑 水、乙醇、有機(jī)溶劑
    scrollable

    *1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
    *2：取決于樣品。
    *3：F 微型電池。

     

    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

    型號 SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元）
    測量原理 Zeta 電位測量：激光多普勒電泳
    測量范圍 -500 至 +500 mV
    適合測量的尺寸范圍 *小 2.0 nm，*大 100 μm *4
    測量電導(dǎo)率范圍 0 至 20 S/m*5
    *大樣品濃度 40% *6
    樣品池 石墨電極電位樣品池
    測量時(shí)間 常規(guī)條件下約 2分鐘
    所需樣品量 100 μL
    分散劑 水
    scrollable

    *4：取決于樣品。
    *5：推薦的樣品電導(dǎo)率范圍：0 到 2 S/m。
    *6：取決于樣品。

     

    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）

    測量單元光學(xué)系統(tǒng) 光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW）
    檢測器：光電倍增管（PMT）
    激光分類 **
    工作溫度和濕度 15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝）
    支架溫度控制溫度設(shè)置 0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達(dá) 70 °C）
    吹掃 可以連接干燥氣體吹掃端口管。
    電源供應(yīng) 交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA
    外觀尺寸 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分）
    重量 25 kg
    電腦 帶有一個(gè)可用 USB 端口的 Windows 計(jì)算機(jī)
    界面 USB 2.0（測量單元和 PC 之間）
    操作系統(tǒng)

    Windows® 10 32/64 位

    scrollable

    尺寸（毫米）

     

    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2附件

    粒徑測量樣品池

      單元名稱 *小音量 溶劑
    A 一次性樣品池 1.2 mL 水性
    B 半微量池 500 μL 水性，非水性
    C 玻璃池 1.2 mL 水性，非水性
    D 一次性半微量池 600 μL 水性
    E 樣品池（帶蓋） 1.2 mL 水性，非水性
    F 微量池（僅側(cè)面檢測） 12 μL 水性，非水性
    G 亞微量池 200 μL 水性，非水性
    H 流動池 100 μL 水性，非水性
    scrollable

     HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

    Zeta電位樣品池

    Zeta potential cells
    用于水相測量的石墨電極電位樣品池， 每盒20個(gè)，每個(gè)樣品池體積為 100 μL。

    Disposable zeta potential cells
    有機(jī)溶劑電位樣品池，體積為100 μL

    HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

    蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號