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日本HORIBA堀場顆粒表征/激光粒度、納米粒度及Zeta電位、顆粒追蹤分析儀
日本HORIBA堀場顆粒表征主要有激光粒度分析儀Partica LA-960V2//激光粒度分析儀Partica mini LA-350//納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000//納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2//Dynamic Image Analysis//ANALYSETTE 28 ImageSizer*//離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300
激光粒度分析儀Partica LA-960V2

LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界,是LA系列儀器的突破性演變。
LY-9610 圖像單元
圖像分析測量范圍 | 9 - 1000 μm |
像素尺寸 | 0.73 μm |
拍照速度 | ≧ 4 幀/秒 |
功能 | 等效圓直徑直方分布圖;形狀參數(shù):縱橫比*、圓度*、長度*、寬度*;等效圓直徑趨勢圖;捕獲圖像的后期分析(放大/縮小,測量尺寸)。 |
激光粒度分析儀Partica mini LA-350

HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域?;贚A系列分析儀的先進(jìn)光學(xué)設(shè)計,LA-350實現(xiàn)了高性能、易操作、低維護(hù)和高效益的優(yōu)點。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm),可以有效節(jié)省實驗室空間。除此之外,LA-350巧妙的設(shè)計、高質(zhì)量的制造確保儀器操作方便、測量范圍寬 (0.1-1000 μm)和測量結(jié)果準(zhǔn)確。
優(yōu)點
- 操作靈活:通過更廣泛的尺寸范圍和靈活的軟件,輕松適應(yīng)不斷變化的測量需求。
- 操作簡單:通過軟件中的方法和操作序列可以實現(xiàn)一鍵操作。
- 快速分析:快速測量和分析立即獲得測量結(jié)果。
納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000

ViewSizer 3000 使用納米顆粒追蹤分析技術(shù) (NTA) 的*新進(jìn)展來準(zhǔn)確確定顆粒屬性!
粒徑測量范圍:10 nm- 15μm,具體范圍取決于樣品
ViewSizer 通過多激光納米顆粒追蹤分析技術(shù) (NTA) 得到顆粒粒徑及粒徑分布。多個激光器可分析同一樣品中各種不同尺寸的顆粒,分辨率更高。
濃度測量范圍:5 x 106 - 2 x 108 顆/mL
NTA 可用于對測量體積中的顆粒進(jìn)行計數(shù)。該測量方法可校正粒徑對有效測量體積的影響。
無交叉污染
樣品池可完全拆卸,拆卸后清洗更方便徹底。拆卸、清潔和重新組裝比沖洗流通池更快。此外,配備多個樣品池可樣品測量通量,也可分配給共享(核心)設(shè)施中的各個小組
納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力,可快速確定納米顆粒的特性!
- SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計,既可以測量高濃度的樣品,如漿體和染料;同時也可以用于測量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)、聚合物等。
- 使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
- HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量(*低容量100 μL)小適用于稀釋樣品的分析。
- HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成,該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300

尺寸

密度梯度溶液配制器(CY-301)
密度梯度溶液配制器可用于幫助制備line-start模式測量所需的密度梯度溶液。放好比色皿按下按鈕后可在約 3 分鐘內(nèi)制備密度梯度溶液。
