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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司中國代理店 大冢電子以“大冢人創(chuàng)造新產(chǎn)品，改善全球健康”為企業(yè)理念，開發(fā)、制造和銷售醫(yī)學(xué)、測量、物理和化學(xué)領(lǐng)域的設(shè)備和設(shè)備，作為一家用光診斷事物的公司。自1970年成立以來，我們一直在探索患者、醫(yī)療保健專業(yè)人員、公司和研究機(jī)構(gòu)真正在尋找什么，并一直在思考“只有大冢電子能做什么”和“只有大冢電子能做什么”來解決他們的需求。我們充分利用“測量光的顏色和亮度、測量材料的形狀和厚度、測量顆粒的大小和檢查人們的健康”等發(fā)布時(shí)間：2023-12-13 16:51 點(diǎn)擊次數(shù)：683 次
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(Otsuka Electronics)大塚電子中國代理店 (OtsukaElectronics)大塚電子中國代理店大塚電子(OtsukaElectronics)是設(shè)立于1970年的光學(xué)測量儀器廠家。蘇州公司主營光譜儀、液晶CellGap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導(dǎo)體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測量設(shè)備OtsukaElectronics大塚電子有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OL發(fā)布時(shí)間：2023-07-28 18:10 點(diǎn)擊次數(shù)：249 次
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OTSUKA大塚電子OPTM膜厚儀的介紹塔瑪薩崎電子代理 OTSUKA大塚電子OPTM膜厚儀的介紹塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司主要代理用于光學(xué)特性評價(jià)、檢測的裝置。其裝置主要用于LED、OLED、汽車前燈等的光源、照明產(chǎn)業(yè)及液晶顯示器、有機(jī)EL等平板顯示產(chǎn)業(yè)及相關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)、檢查。 OTSUKA大塚電子OPTM膜厚儀及其必要性，主要應(yīng)用于功能薄膜行業(yè)PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA等，半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、S發(fā)布時(shí)間：2023-07-28 17:35 點(diǎn)擊次數(shù)：129 次
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日本otsukael大塚ZETA電位*粒徑*分子量測試系統(tǒng) ELSZNEO ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)·ELSZNEO產(chǎn)品介紹：ELSZseries的***機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（ZetaPotential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃發(fā)布時(shí)間：2023-06-12 16:55 點(diǎn)擊次數(shù)：228 次
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OTSUKA大塚電子VR行業(yè)相位差膜RETS-100nx OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括OLED偏振板、層壓緩速膜和帶IPS液晶緩速膜的偏振板。實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。*適合光學(xué)薄膜的偏振特性評估，如延遲（雙折射相位差）的波長色散評估、方發(fā)布時(shí)間：2023-06-10 14:08 點(diǎn)擊次數(shù)：157 次
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OTSUKA大塚電子關(guān)于了解薄膜厚度評估 測量方法 1.簡介在城市中看到智能手機(jī)和平板電腦已經(jīng)不是什么稀奇了，但事實(shí)上，薄膜技術(shù)在這些突飛猛進(jìn)的背后有著巨大的影響。換句話說，半導(dǎo)體是高科技器件的代表，LCD由薄膜堆疊技術(shù)組成。此外，只要想想你周圍的事物，你就會(huì)意識(shí)到薄膜作為核心技術(shù)正在變得不可計(jì)數(shù)。?CPU、存儲(chǔ)器和其他半導(dǎo)體器件、LCD和其他顯示設(shè)備、磁盤、光盤和其他存儲(chǔ)介質(zhì)、鏡頭、在顯示設(shè)備表面施加的無反射膜、防潮膜等聚合物產(chǎn)品的表面改性膜等。發(fā)布時(shí)間：2022-09-13 16:37 點(diǎn)擊次數(shù)：224 次
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日本Otsuka大塚OPTM SERIES顯微分光膜厚儀 ● 非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內(nèi)●初學(xué)者也能輕松解析建模的初學(xué)者解析模式●發(fā)布時(shí)間：2022-05-24 09:23 點(diǎn)擊次數(shù)：256 次
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otsukael大塚RETS-100光學(xué)相位差測量儀 本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動(dòng)大型Ｘ－Ｙ平臺(tái)以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。 本Software自動(dòng)制御偏光Prismunit和MCPD，測量LCDCellGap以及Pre-tilt角的測量。每個(gè)Sample品種，會(huì)準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator放置Sample后，選擇Recipe，即可實(shí)現(xiàn)高精度測量。發(fā)布時(shí)間：2022-05-24 08:58 點(diǎn)擊次數(shù)：385 次
