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紫外可見(jiàn)光光度計(jì)
總代日本HORIBA崛場(chǎng)納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 國(guó)內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)
總代日本HORIBA崛場(chǎng)納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2
粒徑測(cè)量范圍0.3 nm ~ 10 μm
SZ-100V2 系列采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測(cè)量顆粒粒徑大小及分布,實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測(cè)量,該系列可準(zhǔn)確測(cè)量低至ppm 級(jí)低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池,也可實(shí)現(xiàn)對(duì)小體積樣品的測(cè)量。
Zeta 電位測(cè)量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測(cè)量Zeta 電位值只需樣品100 μL,通過(guò)Zeta電位可預(yù)測(cè)和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高,則意味著分散體系越穩(wěn)定,這對(duì)于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測(cè)量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過(guò)測(cè)量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過(guò)德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力,可快速確定納米顆粒的特性!
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SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì),既可以測(cè)量高濃度的樣品,如漿體和染料;同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)、聚合物等。
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使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量(*低容量100 μL)小適用于稀釋樣品的分析。
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成,該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
SZ-100-S2 測(cè)量規(guī)格
型號(hào) | SZ-100-S2(**粒徑和分子量測(cè)量) |
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測(cè)量原理 |
粒度測(cè)量:動(dòng)態(tài)光散射 分子量測(cè)量:德拜記點(diǎn)法(靜態(tài)散射光強(qiáng)度) |
測(cè)量范圍 |
粒徑:0.3 nm 至 10 μm 分子量:1000 至 2 × 10 7 Da(德拜記點(diǎn)) 540 至 2× 10 7 Da(MHS 方程)*1 |
*大樣品濃度 |
40%*2 |
粒度測(cè)量精度 |
以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例,其測(cè)量精度為 ±2% (不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化) |
測(cè)量角度 |
90°和173°(自動(dòng)或手動(dòng)選擇) |
樣品池 | 比色皿 |
測(cè)量時(shí)間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘(從測(cè)量開(kāi)始到顯示粒度測(cè)量結(jié)果) |
所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL(因比色皿材料而異) |
分散劑 | 水、乙醇、有機(jī)溶劑 |
尺寸(毫米)
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