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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo
詳情介紹：


產(chǎn)品信息

特征
  • 采用線掃描方式實現(xiàn)無“遺漏”的全表面薄膜檢測
  • 可由專門從事薄膜厚度測量的制造商提供的**支持
  • 高速高精度測量
  • 使用抗顫振的光學系統(tǒng)
  • 寬樣品（TD 方向可達 10 m）
  • 硬件和軟件的原始設(shè)計

 

探測器可根據(jù)薄膜寬度進行擴展（*大10m）
即時分析500mm薄膜厚度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)全寬測量。

規(guī)范

薄膜厚度范圍 0.7~300微米
測量寬度 500 mm~*大 10 m
測量間隔 10毫秒~
設(shè)備尺寸（寬×深×高） 81×140×343 毫米
重量 4 公斤（僅頭部）
*大功耗 交流100 V±10% 125VA





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