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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
除了可實現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實施自動可變測量機制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機制來提高測量精度。
詳情介紹：
  • 橢偏參數(shù)可以在紫外-可見光 (300-800 nm) 波長范圍內(nèi)測量。
  • 納米級多層薄膜厚度分析成為可能
  • 可以通過 400 個或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓偏光
  • 支持通過可變反射角測量對薄膜進行詳細分析
  • 通過創(chuàng)建光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫和添加配方注冊功能提高了可操作性。
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