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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：量子效率測量系統(tǒng)QE-2000 / 2100

    • 產(chǎn)品型號：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    可以立即測量優(yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產(chǎn)率）。與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區(qū)域中的雜散光。另外，通過采用集成的半球單元，可以實現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)，并且通過利用此優(yōu)勢的再激發(fā)熒光校正，可以執(zhí)行高精度的測量。此外，QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。 　
    詳情介紹：
    特殊長度
    堅持高精度測量
    • 可以立即測量優(yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產(chǎn)率）
    • 可以消除重新激發(fā)的熒光發(fā)射
    • 采用集成半球單元可以實現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)。
    • 低雜散光多通道光譜檢測器可大大減少紫外線區(qū)域中的雜散光

     

    堅持簡單的操作
    • 專用軟件易于操作
    • 易于安裝/拆卸樣品測量單元
    • 節(jié)省空間和緊湊的設(shè)計
    • 可以通過使用分光鏡型激發(fā)光源來選擇任意波長。
    • 通過在軟件上指定激發(fā)波長的波長和步長值，可以進行自動測量。

     

    堅持多功能
    • 與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
    • 豐富的分析功能

     

    測量項目
    • 量子效率（量子產(chǎn)率）測量
    • 激發(fā)波長依賴性測量
    • 發(fā)射光譜測量
    • PL激發(fā)光譜測量
    • EEM（激發(fā)排放矩陣）測量

     

    用法
    • 用于LED和有機EL的熒光粉的量子效率（量子產(chǎn)率）測量
    • 膜狀
      樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產(chǎn)率）測量-遠程熒光粉的熒光樣品等
    • 量子點，熒光探針，生物場，籠形化合物等的熒光測量。
    • 染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產(chǎn)率）測量
    • 復(fù)雜化合物的測量

     

    精度高的原因
    1.具有完整半球的理想光學(xué)系統(tǒng)

    QE-2000配備了一個積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特征。

    • 由于非發(fā)光部（保持器等）可以暴露于外部，因此可以保持自吸收較小，并且可以實現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)。
    • 反射鏡可使同一點的照度增加一倍，并且可以高靈敏度進行測量。
    • 樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，幾乎沒有損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險。

     

    2.通過再激發(fā)熒光校正功能觀察“真實的物理性質(zhì)值”

    在包括再次激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下，觀察到的是設(shè)備的特性，而不是觀察到材料本身的物理性質(zhì)，并且無法獲得真實的物理性質(zhì)值。QE-2000可以通過利用積分半球的再激發(fā)熒光校正來執(zhí)行簡單而準(zhǔn)確的測量。

     

    3.低雜散光多通道光譜檢測儀可減少紫外線區(qū)域中的雜散光

    使用傳統(tǒng)的檢測器（多色儀），可以在高水平檢測紫外線區(qū)域中的雜散光，因此它不適用于測量量子效率（量子產(chǎn)率）。大冢電子通過開發(fā)消除雜散光的技術(shù)解決了這一問題。安裝在QE-2000上的多通道光譜探測器的雜散光強度約為我們傳統(tǒng)產(chǎn)品的1/5，即使在紫外線區(qū)域也可以進行高精度的測量。

    • 產(chǎn)品信息
      •  
    • 原則
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    • 規(guī)格
      •  
    • 測量例
      •  
    • QE-2100

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