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  • 產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:線掃描膜厚儀[離線型]

    • 產(chǎn)品型號(hào):
    • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價(jià)格:0
    • 折扣價(jià)格:0
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    簡(jiǎn)單介紹:
    該設(shè)備可以輕松地離線檢查面內(nèi)膜厚不均,以進(jìn)行膜的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽樣檢查。 可以高速且高精度地測(cè)量整個(gè)表面。
    詳情介紹:
    特殊長(zhǎng)度
    • 可以檢查薄膜的面內(nèi)薄膜厚度不均等
    • 可以高速,高精度地測(cè)量整個(gè)表面
    • 只能由專門從事膜厚測(cè)量的制造商提供的**支持
    • 通過分光光度法進(jìn)行高精度的膜厚測(cè)定
    • 硬件和軟件的原始設(shè)計(jì)

     

    線掃描圖像
    即時(shí)分析300毫米見方的光譜數(shù)據(jù),以進(jìn)行**的不均勻檢查和膜厚測(cè)量

     

    電影
     
    • 產(chǎn)品信息
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    • 測(cè)量例

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