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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：參考測量儀RETS-100nx

    • 產(chǎn)品型號：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    它是一種相位差測量設(shè)備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。 此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，可支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的未對準(zhǔn)，從而實現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
    詳情介紹：
    特殊長度
    高精度測量只能通過獨特的光譜儀完成

    ■高精度


    多高精度由波長測量實現(xiàn)
    λ/ 4，λ/ 2之類的難以在短波長下測量的結(jié)果可以作為近似值獲得。 可以不受膜厚干擾波形的影響而獲得結(jié)果。
    <確切原因>
    的，專有的高性能的多通道光譜儀使用
    它可以得到多的信息傳輸，可實現(xiàn)高**度的測量
    （獲得透射率信息是約500米的波長，約50倍的其他公司的產(chǎn)品）

     

    ■寬廣的測量范圍（保留范圍：0至60000 nm）

    ■寬廣的測量范圍即使強度相同，也可以根據(jù)其他波長數(shù)據(jù)進行計算。

     

    ■了解延遲波長色散形狀

    ■可以測量顯示出延遲波長色散形狀的反向色散樣本。

     

    超高延遲測量-超雙折射膜的高速高精度測量-

    ■高延遲
    ■高延遲測量即使具有如此高的延遲，也可以使用獨特的算法在沒有參數(shù)的情況下進行分析。
    超高Re.60000nm兼容

     

    多層測量-各種膜的層壓狀態(tài)的無損和無損測量，不剝離-

    多層測量無需剝離，可以按原樣進行測量

     

    車軸角度校正功能-即使樣品安裝未對準(zhǔn)，也可輕松，輕松地進行測量-

    ■
    更換樣品10次，并比較有無角度校正的結(jié)果[樣品：相差膜R85]

    放置樣品10次，并在有和沒有角度校正的情況下比較結(jié)果。無校正：由于重新定位而引起的變化：0.13，具有校正：由于重新定位而引起的變化：0.013以下

     

    簡單的軟件-大大減少了測量時間和處理時間。大大提高了可操作性-

    簡易軟件所有操作均可在一個屏幕上完成！

    • 產(chǎn)品信息
      •  
    • 規(guī)格
      •  
    • 光學(xué)系統(tǒng)

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