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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:Otsuka大塚膜厚計FE-300

  • 產(chǎn)品型號: FE-300
  • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300
詳情介紹:

膜厚計FE-300

它是一種緊湊且低成本的膜厚計,可以通過高精度光學干涉法輕松測量膜厚。
我們采用了一體式外殼,將必要的設備容納在主體中,從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率,可以分析光學常數(shù)。






  • 產(chǎn)品資訊
  • 原理
  • 規(guī)范
  • 設備配置

產(chǎn)品資訊

特殊長度
  • 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
  • 使用反射光譜進行膜厚分析
  • 緊湊且價格低廉,實現(xiàn)了非接觸,無破壞的高精度測量
  • 簡單的條件設置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 使用峰谷法,頻率分析法,非線性*小二乘法,優(yōu)化法等,可以進行多種膜厚測量。
  • 通過非線性*小二乘法的膜厚分析算法,可以進行光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))。

 

測量項目
  • **反射率測量
  • 膜厚分析(10層)
  • 光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))

 

測量目標
  • 功能膜,塑料
    透明導電膜(ITO,銀納米線),相位差膜,偏光膜,AR膜,PET,PEN,TAC,PP,PC,PE,PVA,膠粘劑,膠粘劑,保護膜,硬質(zhì)大衣,防指紋等
  • 半導體
    化合物半導體,硅,氧化膜,氮化膜,抗蝕劑,SiC,GaAs,GaN,InP,InGaAs,SOI,藍寶石等。
  • 表面處理
    DLC涂層,防銹劑,防霧劑等
  • 光學材料
    濾鏡,增透膜等
  • FPD
    LCD(CF,ITO,LC,PI),OLED(有機膜,密封劑)等
  • 其他
    硬盤,磁帶,建筑材料等
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